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home > 事業内容 > フラクトグラフィと元素分析

破断面を調査するフラクトグラフィ技術は、破壊の機構や原因に関する種々の情報が得られるので、部材の損傷原因究明手法として大いに活用されています。
当社では、走査型電子顕微鏡及びエネルギー分散型X線分光分析装置を用いて損傷部材の破面状態から破壊形態の特定、元素分布分析など、信頼性の高いデータを提供しています。

走査型電子顕微鏡(SEM)	エネルギー分散型X 線分光分析装置(EDX)による 元素分析

フラクトグラフィ

疲労破面のビーチマーク	延性破面のディンプル

疲労破面のストライエーション	脆性破面のリバーパターン

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